变压器高压介质损耗

今天给大家分享变压器高压介质损耗，其中也会对变压器介损超标如何处理的内容是什么进行解释。

简述信息一览：

• 1、高压介质损耗测试仪的工作原理是什么?
• 2、变压器损耗测试仪完整的操作步骤
• 3、什么是变压器的介质损耗
• 4、电力变压器套管末屏介质损耗及电容量测试
• 5、介质损耗因数受哪些因素影响?

高压介质损耗测试仪的工作原理是什么?

电力变压器、继电器、互感器、电容器、避雷器等这些高压电设备，在长时间运行之后，需要定期进行介质损耗的测量，因此需要用到高压介质损耗测试仪（也叫全自动抗干扰异频介损测试仪），该设备由于比较复杂，又是高压电力试验设备，因此需要大家熟练掌握其工作原理。

在交流电压作用下，电介质消耗电能，转变成热能，这就是电介质的损耗。测量这种损耗的仪器即为介质损耗测试仪。该仪器工作原理涉及电压、电流、相角和介质损耗角正切等概念。介质损耗测试仪通过测量标准回路和被试回路中的电流幅值和相位等参数，计算出被试品的电容值和介质损耗角正切值。

介质损耗测试仪（又称全自动抗干扰异频介损测试仪）测试方法 首先将要进行tanδ测试或耗散因数测试的电缆，绕组，电流互感器，电压互感器，变压器套管与系统隔离。在要测试其绝缘的设备上施加非常低的频率测试电压。首先，施加正常电压。

介质损耗测试仪的工作原理：在交流电压作用下，电介质要消耗部分电能，这部分电能将转变为热能产生损耗。这种能量损耗叫做电介质的损耗。当电介质上施加交流电压时，电介质中的电压和电流间存在相角差Ψ，Ψ的余角δ称为介质损耗角，δ的正切tgδ称为介质损耗角正切。tgδ值是用来衡量电介质损耗的参数。

抗干扰介质损耗测试仪的工作原理主要基于两个关键回路：标准回路和测试回路。标准回路由内置的高稳定度标准电容器和电阻网络构成，它的电流值会与测试回路的电流幅值和相位差进行实时***集。通过计算机运算，可以准确计算出被测试样品的电容值（Cx）和介质损耗（tgδ）。

变压器损耗测试仪完整的操作步骤

1、电源管理 充电操作：插入电源后，绿色指示灯亮起表示充电完成。按下“I”键进入充电状态，按下“0”键关闭充电。电源控制：使用“0”键关机，按“I”键启动内部电池供电，按“II”键连接外部电源，使仪器开始工作。

2、打开仪器电源开关，设置参数，选择反接法、内标准、变频、内高压、测试电压（10kV）。按下仪器高压开关，点击开始测试，等待30s左右显示测试结果，包括电容值C和介质损耗tgδ。测试完成后，根据需求保存或打印结果，关闭仪器，拆线。注意事项：确保仪器和变压器低压侧绕组可靠接地，刮净接地点上的油漆铁锈。

3、设置当前温度，高压侧额定电压，变压器类型，分接档位，被试品编号。按开始键进行测试，结果自动保留在液晶上。选择‘保存’可将结果保存到内部存储器中，选择‘打印’可将测试结果打印出来。有源负载试验的接线方法与容量测试相同，参数设置在主界面的第三项‘参数设置’中。

什么是变压器的介质损耗

1、变压器的介质损耗是指在电压作用下，绝缘材料中产生的能量损耗。具体来说：定义：在电压作用下，电介质中会产生一定的电流，进而引起能量损耗，这种损耗被称为变压器的介质损耗。形成机理：介质损耗主要由三部分组成，即弛豫损耗、共振损耗和电导损耗。

2、介质损耗是绝缘材料在电场作用下产生的一种特殊损耗。由于介质存在电导和极化滞后效应，这些效应会在材料内部导致能量损失。根据形成机理的不同，介质损耗可以细分为弛豫损耗、共振损耗和电导损耗。这些不同类型的损耗各自具有不同的特性和影响因素，但共同构成了变压器介质损耗的复杂机制。

3、任何绝缘材料在电压作用下，总会流过一定的电流，所以都有能量损耗。把 在电压作用下电介质中产生的一切损耗称为变压器的介质损耗。变压器是利用电磁感应的原理来改变交流电压的装置，主要构件是初级线圈、次级线圈和铁芯。主要功能有电压变换、电流变换、阻抗变换、隔离、稳压等。

4、变压器的介质损耗一般是指磁介质损耗。主要包括两部分：一部分是磁滞损耗，另一部分是涡流损耗。磁滞损耗是因为铁芯存在“磁滞回线”，以至于感生电动势和磁化电流之间的相位差不等于90度了。我们知道，如果是90度，这个电流就是“无功”的了，现在不等于90度，相当于并联上了一个有功的电流成分。

5、介质损耗：绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。在交变电场作用下，电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角（功率因数角Φ）的余角δ称为介质损耗角 电介质在交变电场作用下，所积累的电荷有两种分量：（1）有功功率。

电力变压器套管末屏介质损耗及电容量测试

变压器套管的介质损耗通常在安装前进行测量，但在交接试验中，末屏的损耗并不作为常规项目。在运行阶段，只有当末屏绝缘电阻异常时，才会进行测试，因此这项工作鲜少进行，导致我们对其了解不足。末屏电容量的精确测定方法/ 在实际运行中，套管末屏电容C2的测量需要特殊技巧。

测量高压电容型套管末屏对地的绝缘电阻和介质损耗因素就是为了及早发现隐患。由于初期进水受潮时，潮气和水分只进入末屏附近的绝缘层，故占总体积的比例很小，测量套管主绝缘往往反映不出缺陷。

试验方法：由电容分压器（包括主电容器C1，分压电容器C2）、中间变压器（即中间电压互感器TV）、共振电抗器L载波阻抗器L2及阻尼电阻器R等元件组成。其介质损耗角tgδ值的测试，可分单元件试验。

适用场景：变压器套管、电容器等低压端对地绝缘的设备；操作步骤：反接法（接地设备）高压线（红夹子）直接连接被试设备高压端，低压线不接入，仪器低压端通过接地线连接设备外壳；限制：测试电压需≤3kV，避免末屏绝缘击穿。

介质损耗因数受哪些因素影响?

温度的影响。温度对tanδ有直接影响，其程度因绝缘材料和设备结构而异。一般来说，tanδ随着温度的升高而增加。为了便于比较，应将不同温度下测得的tanδ值换算成20℃后再进行比较。

介质损耗因数偏大的原因及处理方法：（1）瓷套表面受潮。瓷套表面电阻的大小直接影响tanδ的准确度，因为表面电阻与体积电阻并联在一起，当电桥***用反接法测量时，会使tanδ值偏大。解决方法是：1）用电吹风、远红外等烘燥表面，或在日光下暴晒。2）用挥发性强的液体清洁。

介质损耗因数的影响因素包括温度、频率、湿度以及电场强度等。在高温或高电场强度下，tanδ的值可能会显著增加。此外，绝缘材料的老化、劣化或污染也可能导致tanδ的增加。因此，对于电力设备的运行和维护，定期检测tanδ的值是非常重要的。测量tanδ的方法主要包括电桥法、谐振法和在线监测法等。

介质损耗主要由Ra（介质损耗）、Rs（引线、焊接点及电极金属镀层损耗）、ESR（Rs+Rd）组成。电容器的损耗因数DF受温度影响，不同温度下其测量标准不同（参考表1）。表1为EIA-521标准下不同温度下的DF值参考标准。

交流电气设备的介质损耗主要原因如下：电气设备的绝缘部件本身应该是绝缘的，内部应该不流过电流，如果内部受潮等流过了小量电流，这个电流就会在绝缘介质中发热，这部分损耗就是介质损耗。

关于变压器高压介质损耗，以及变压器介损超标如何处理的相关信息分享结束，感谢你的耐心阅读，希望对你有所帮助。